日本原装基恩士KEYENCE干涉式同轴 3D 位移测量仪WI-001详询13525516487
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WI-5000 系列干涉式同轴3D位移测量仪最快仅需 0.13 秒,即可捕捉到最大尺寸为 10×10 mm的目标区域的三维图像。该传感器能同时记录目标表面 80,000 个高度数据点,拥有超大检测范围(最大可达 10 × 10 mm),可瞬间测量面粗糙度(Sa、Sz)和线粗糙度(Ra、Rz),并在线识别是否为良品。WI-5000 系列应用白光干涉技术,能够有效应对镜面、透明与深色材料表面的测量挑战,显著提升复杂材质下的测量效率。该传感器由于采用同轴测量,可有效减少沟槽及其他高度急剧变化的形状中无法进行精准测量的盲区。为了用于离线检测,备有可固定测量头的专用底座,只要使用位置补正功能,即可无需繁琐的定位,实现仅需放置就能完成的检测。
- 型号:WI-001
- 参考距离:18 mm
- 测量范围
Z:1.4 mm(标准模式),0.7 mm(高速模式)
XY:1 × 1 mm
- 最小检测区域:4 × 4 μm
- 重复精度 (段差):0.1 μm
- 直线性 (段差):±2.8 μm (±0.2% of F.S.,F.S.=1.4 mm,+20 至 + 30℃)
- 测量用光源
类型:红外线 SLD
中心波长:830 nm
激光分类:3R 类(IEC60825-1,GB7247.1)
输出:3.6 mW
- 引导用光源
类型:红色半导体激光
波长:660 nm
激光分类:1 类(IEC60825-1,GB7247.1)
输出:0.15 mW
- 采样周期
内部触发:133 ms (高速模式),266 ms (标准模式)
外部触发:最快 266 ms (高速模式),最快 532 ms (标准模式)
- 环境抗耐性
环境光照:白炽灯 / 荧光灯:5,000 lux 以下
环境温度:0 至 +35 ℃
相对湿度:20 至 85 % RH(无凝结)
- 重量:约 3000 g

全新原装进口KEYENCE基恩士高精度2D激光位移传感器LJ-G015K详询13525516487