剥离强度测试仪是一种可以通过符合 JIS 等标准的方法测量容纳半导体和电子元件的压花载带的盖带剥离强度的测试仪。 固件 Ver.5 或更高版本的 Next 系列将改进的测量稳定性与低噪声、可在专用站点添加功能的可扩展性以及下载各种软件和说明手册的便利性相结合。 最多可测量 5N。
该剥离强度测试仪非常适合测试基于 JIS 和 IEC 标准的压花载带的剥离强度。
高速采样 (2000 Hz) 可跟踪负载的突然变化,从而实现峰值和连续数据的高重现性。
由于它是一台专用机器,因此可以轻松设置样品组,并且从测量开始到记录图表,只需一键式作即可轻松进行测试。
随附的软件使用高速数据通信 (2000Hz) 来准确绘制图形,即使是微小的变化也是如此。 可以叠加多个图形以进行视觉评估。
固件 Ver.5 或更高版本的 Next Series 可以从专用网站下载,因此您可以根据自己的应用程序扩展测量仪的功能。
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